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Rasterelektronen- und fokussierter Ionenstrahl-Mikroskop (FIB-SEM)

Archiv | Abgabetermin 10.07.2024 | Leistungsfähiges Zweistrahl-Gerät bestehend aus fokussiertem Ionen-Strahl (Gallium) und Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop. Einsetzbar für weiten Bereich in Probenpräparation und...
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