Auftragsart: Lieferung
Archiv | 01.06.2024 | Leistungsfähiges Zweistrahl-Gerät bestehend aus fokussiertem Ionen-Strahl (Gallium) und Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop. Einsetzbar für weiten Bereich in Probenpräparation und Charakterisierung im Mikro-und Nano-bereich. (Für Details siehe Specification Documentation).
Bedarfsstelle/Vergabestelle:
ETH Zürich