Rasterelektronen- und
fokussierter Ionenstrahl-Mikroskop (FIB-SEM)

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Abgabetermin: 10.07.2024 - 12:00 Uhr

Auftragsart: Lieferung

Archiv | 01.06.2024 | Leistungsfähiges Zweistrahl-Gerät bestehend aus fokussiertem Ionen-Strahl (Gallium) und Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop. Einsetzbar für weiten Bereich in Probenpräparation und Charakterisierung im Mikro-und Nano-bereich. (Für Details siehe Specification Documentation).

 

Bedarfsstelle/Vergabestelle:
ETH Zürich

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