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Raster-Elektronenmikroskop (SEM) für Baumaterialien

Archiv | Abgabetermin 17.03.2025 | Das Institut für Baustoffe (IfB) schreibt die Anschaffung eines Rasterelektronenmikroskops (SEM) aus. Das System wird für eine breite Palette von Probenanalysen eingesetzt, die von Mitarbeitern,...
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«Wenn es nur eine Wahrheit gäbe, könnte man nicht hundert Bilder über dasselbe Thema malen.»

(Pablo Picasso, 1881-1973)

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