Vorgestellt werden unter anderem das weiterentwickelte und leistungsstarke XRF-Messgerät FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-µ LD aus der High-End-Röntgenfluoreszenz-Serie, das für die präzise Schichtdickenmessung und Materialanalyse an winzigen Strukturen entwickelt wurde. Für maximale Flexibilität im Bereich Schichtdickenmessung stehen die taktilen Allroundtalente der neuen DMP-Serie zum Testen bereit. Die kompakten Handgeräte mit vielseitigen Funktionalitäten sind mit einem robusten und modernen Design, digitalen Sonden sowie einer neuen, intuitiven Software ausgestattet.
Weiterhin werden verschiedene Handgeräte für diverse Anwendungen in der Schichtdickenmessung und Werkstoffprüfung präsentiert, beispielsweise die Serie MP0 und MP0R, FMP100 oder MMS Inspection. Im Bereich der Nanoindentation zeigt Fischer das HM2000 S. Das leicht skalierbare Einsteigermodell eignet sich optimal für die Messung der Härte und Elastizität von Oberflächen. Mit dem FISCHERSCOPE® X-RAY 4100 SDD und dem FISCHERSCOPE® MMS® PC2-Prüfstand gibt Fischer einen Einblick in seine Automationslösungen.
Darüber hinaus werden zwei revolutionäre Produktneuheiten erstmalig vorgestellt: Eine Inline-Analyse per X-Ray zur Messung von galvanischen Bädern sowie ein Instrument zur Messung von organischen Einfach- oder Mehrfachschichten auf unterschiedlichsten Grundwerkstoffen. Besucher können sich in Halle 7, Stand 7501 von den Fischer Experten zu ihren Messaufgaben beraten lassen. Terminvereinbarungen sind erwünscht.