Hochauflösendes Rasterelektronen-
und fokussierter Ionenstrahl-Mikroskop

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Abgabetermin: 22.08.2019 - 16:00 Uhr

Auftragsart: Lieferung

Archiv | 13.07.2019 | Hochauflösendes Rasterelektronen- und fokussierter Ionenstrahl-Mikroskop

 

Leistungsfähiges Zweistrahl-Gerät bestehend aus fokussiertem Ionen-Strahl (Gallium) und Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop. Einsetzbar für weiten Bereich in Probenpräparation und Charakterisierung im Mikro-und Nanobereich. (für Details siehe Specification Documentation).

 

Bedarfsstelle/Vergabestelle:
ETH Zürich

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