High Frequency Characterization

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Abgabetermin: 11.01.2016

Auftragsart: Lieferung

Archiv | 01.12.2015 | EPFL will ein Network Analyser mit RF-probes für on-Wafer Messungen für sein Institut für Elektrotechnik (IEL) der School of Engineering (STI) erwerben.
Die Ausrüstung wird auf state-of-the-art-Forschung (Nano)elektronische Devices, Circuits und Systems gewidmet werden.


Im Hinblick auf die Bedürfnisse der EPFL und der spezifischen wissenschaftlichen Ziele der STI Fakultät Partner Anwendung für diesen Vorschlag: Nanoelectronic Devices Laboratory (NANOLAB), Telecommunications Circuits Laboratory (TCL), POWERLAB, Laboratory of Electromagnetics and Acoustics (LEMA) und EE-LAB von the Institute of Electrical Engineering (IEL), wird der Schwerpunkt auf folgende Forschungsbereiche gelegt werden :

  • Bewertung der hochfrequenten Gütezahlen von graphene-based switches, capacitors, filters und programmable delay lines,
  • Bewertung der Micro/Nano-Electro-Mechanical Strukturen um HF-Funktionen zu unterstützen und/oder als Meta-Materialien in der 10-100GHz Frequenzbereich handeln,
  • Design und experimentelle Untersuchungen von full-duplex radios
  • Charakterisierung von high electron mobility transistors (HEMTs) die bis zu 100 GHzk,
  • Bewertung der III-Nitrides für Ultrahochfrequenzgeräten auf ballistische Transport von Elektronen basiert,
  • Neue Antenne und Transceiver-Design für mehr als 60-GHz-Frequenzbereich Anwendungen.
Bedarfsstelle/Vergabestelle:

Ecole Polytechnique Fédérale de Lausanne (EPFL)

HINWEISE: Beachten Sie bitte die Eingabevorschriften. Dies ist keine amtliche Veröffentlichung. Massgebend sind die vom seco mit einer elektronischen Signatur versehenen SHAB-Daten. Die Adresse für die Unterlagen sowie eine detaillierte Beschreibung finden Sie auf der SSL-gesicherten Detailseite.