Elektronenenergiefilter für Jeol JEM F-200

» Beitrag melden

Abgabetermin: 19.02.2021 - 14:00 Uhr

Auftragsart: Lieferung

Archiv | 18.12.2020 | Das Paul Scherrer Institut wird einen Elektronenenergiefilter für ein 200 kV (Scanning) JEOL JEM-F200 Transmissionselektronenmikroskop erwerben. Der Filter wird hauptsächlich für die Datenerfassung im Bildgebungs- und Beugungsmodus verwendet, wobei Detektoren verwendet werden, die am PSI entwickelt wurden und werden. Der Energiefilter dient zwei Zwecken: (i) Reduzieren des Signals unelastisch gestreuter Elektronen und (ii) Biegen des Elektronenstrahls, wodurch eine signifikante Vergrößerung nach der Säule durch Einsetzen einer Flugröhre zwischen dem Energiefilter und einem Detektor ermöglicht wird. Für Details siehe Spezifikation PSI-AA24-001 Rev.1.00

 

Bedarfsstelle/Vergabestelle:
Paul-Scherrer-Institut (PSI)

HINWEISE: Beachten Sie bitte die Eingabevorschriften. Dies ist keine amtliche Veröffentlichung. Massgebend sind die vom seco mit einer elektronischen Signatur versehenen SHAB-Daten. Die Adresse für die Unterlagen sowie eine detaillierte Beschreibung finden Sie auf der SSL-gesicherten Detailseite.