Beschaffung Röntgen-Diffraktometer

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Abgabetermin: 21.04.2017 - 16:00 Uhr

Auftragsart: Lieferung

Archiv | 01.03.2017 | Röntgen-Diffraktometer für die Charakterisierung von Dünnfilm-Systemen:

 

Röntgen-Diffraktometer mit einer Hochleistungs-Kupfer-Quelle für hochauflösende Charakterisierung von Dünnschicht-Systemen. Der 1D-Detektor wird benötigt, um die Messzeiten kurz zu halten. Weitere Details sind im Dokument „specifications“ beschrieben.

 

Bedarfsstelle/Vergabestelle:
ETH Zürich

HINWEISE: Beachten Sie bitte die Eingabevorschriften. Dies ist keine amtliche Veröffentlichung. Massgebend sind die vom seco mit einer elektronischen Signatur versehenen SHAB-Daten. Die Adresse für die Unterlagen sowie eine detaillierte Beschreibung finden Sie auf der SSL-gesicherten Detailseite.
Rubriken: Röntgentechnik