Beschaffung Rasterelektronenmikroskop

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Abgabetermin: 22.04.2019

Auftragsart: Lieferung

Archiv | 13.03.2019 | Rasterelektronenmikroskop basierend auf einem thermischen (schottky) Feldemitter:

 

Rasterelektronenmikroskop basierend auf einem thermischen (schottky) Feldemitter, mit hoher Auflösung (mindestens 1,2 nm bei 1 kV) und großem Vergrößerungsbereich (20x - 1'000'000x).

 

Bedarfsstelle/Vergabestelle:
ETH Zürich

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