Beschaffung AFM kombiniert mit IR Spektroskop

» Beitrag melden

Abgabetermin: 13.03.2017 - 15:00 Uhr

Auftragsart: Lieferung

Archiv | 01.02.2017 | Hoch auflösendes AFM (Atomic Force Microscope / Rasterkraftmikroskop) kombiniert mit einem hoch auflösenden IR (Infrarot) Spektroskop:


Kurzbeschrieb
Hoch auflösendes AFM (Atomic Force Microscope / Rasterkraftmikroskop) kombiniert mit einem hoch auflösenden IR (Infrarot) Spektroskop um die chemische Verteilung wie auch Eigenschaften der Mikrostruktur aufzuzeigen.

 

Ein detailliertes Pflichtenheft kann über Simap.ch angefordert werden gemäss Art. 3.13.

 

Bedarfsstelle/Vergabestelle:
Empa Dübendorf

HINWEISE: Beachten Sie bitte die Eingabevorschriften. Dies ist keine amtliche Veröffentlichung. Massgebend sind die vom seco mit einer elektronischen Signatur versehenen SHAB-Daten. Die Adresse für die Unterlagen sowie eine detaillierte Beschreibung finden Sie auf der SSL-gesicherten Detailseite.