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«Biss»-Defekte in «Bottom-Up»-Graphen-Nanobändern

Archiv | 05.06.2021 | Wissenschaftler der Empa und der EPFL haben eine neue Art von Defekten als häufigste Quelle von struktureller Unordnung in auf Oberflächen synthetisierten Graphen-Nanobändern identifiziert, einer ...
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«Man kann niemanden etwas lehren, man kann ihm nur helfen, es in sich selbst zu finden.»

(Galileo Galilei, 1564-1642)

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