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Kostenlose Analyse der Test-Coverage in OrCAD Capture

Inaktiv | 23.02.2017 | Mit einer kostenlosen App kann in der Leiterplatten-Entwurfssoftware OrCAD Capture und Altium Designer in wenigen Minuten die Test-Coverage der Schaltung angezeigt werden. Die App wurde von XJTAG, ...
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Spruch des Tages

«Besser fehlerhaft beginnen, als zu perfekt zögern.»

(Quelle: Unbekannt)

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